「defects inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method and apparatus for inspecting defects of a glass substrate in which the inspection sensitivity of the defects of the glass substrate can be improved more than before and time to inspect the defects can be shortened, and to provide a method of manufacturing the glass substrate using a defect inspection method or a defect inspection apparatus.例文帳に追加

従来よりもガラス基板の欠陥の検査感度を向上可能であり、かつ、欠陥を検査する時間を短縮できるガラス基板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びに、前記欠陥検査方法又は前記欠陥検査装置を用いたガラス基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To mitigate or dissolve defects and problems regarding an invariance inspection used for circuit design.例文帳に追加

回路設計に使用される不変性検査に関する欠点及び問題点を軽減又は解消すること。 - 特許庁

To provide inspection device of defect for detecting defects on glass surfaces of solar battery panels with full accuracy.例文帳に追加

太陽電池パネルのガラス表面上のキズを精度良く検出するキズ検査装置を提供する。 - 特許庁

A substrate including a plurality of defects is inspected by using an electron microscope device in the substrate inspection method.例文帳に追加

電子顕微鏡装置を用い複数の欠陥を含む基板を検査する基板検査方法である。 - 特許庁

This is because there is nothing so beautiful that, even on close inspection, no defects will be found. 例文帳に追加

なぜならば、精密に検査しても何か欠点が現れないほど美しいものは存在しないからである。 - Tanaka Corpus

This is because there is nothing so beautiful that, even on close inspection, no defects will be found.例文帳に追加

なぜならば、精密に検査しても何か欠点が現れないほど美しいものは存在しないからである。 - Tatoeba例文

a device used to find defects in materials, like steel, using ultrasonic waves named an ultrasonic inspection meter 例文帳に追加

超音波探傷器という,超音波を利用して鋼材などの材料内部の欠陥を探知する装置 - EDR日英対訳辞書

To improve a defect inspection in detection sensitivity for a minute defect while suppressing generation of pseudo defects.例文帳に追加

欠陥検査において、疑似欠陥の発生を抑制しつつ、微小欠陥の検出感度を向上する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device with enhanced inspection accuracy on defects on a surface of an inspecting object by suppressing the influence of the surface condition of the inspecting object on the inspection accuracy.例文帳に追加

被検査物の表面の状態が検査精度に与える影響を抑えて被検査物表面の欠陥の検査精度を向上させることが可能な表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a method thereof for highly accurately distinguishing noise or nuisance defects from real defects by unifying inspection results different from each other in lighting conditions or detection conditions.例文帳に追加

照明条件、もしくは検出条件の異なる検査結果を統合することで、ノイズやNuisance欠陥と真の欠陥を高精度に判別することができる欠陥検査装置及びその方法を提供することにある。 - 特許庁

To make an inspection device detect defects with higher sensitivity without preparing a plurality of electron sources, where the inspection device detects the defects in circuit patterns for a semiconductor device on a wafer during a manufacturing process of the semiconductor device by using potential contrast.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の半導体装置の回路パターンの欠陥を電位コントラストにより検出する装置において、電子源を複数備えることなく高感度に検出可能とする。 - 特許庁

To provide an image inspection device and an image inspection program that inspect defects and faults on the surface of a workpiece inexpensively at a high speed.例文帳に追加

高速かつ低コストで検査対象物の表面の不良や欠陥を検査することのできる画像検査装置および画像検査プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method for enlarging the take-in range of light scattered due to minute defects and enhancing signal intensity.例文帳に追加

微細な欠陥から散乱した光の取込範囲を拡大し信号強度を高める欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To properly perform quality control, based on the number or density of defects in a semiconductor manufacturing process by using a plurality of sets of inspection equipment which have different inspection sensitivity.例文帳に追加

検査感度が異なる複数の検査装置を用いて、半導体製造プロセスにおける欠陥数あるいは欠陥密度による品質管理を正しく行う。 - 特許庁

To provide an optical film inspection method which can appropriately perform an inspection for defects in an optical film including a hybrid nematically oriented liquid crystal film.例文帳に追加

ハイブリッドネマチック配向液晶フィルムを含む光学フィルムの欠陥の検査を的確に行うことができる光学フィルムの検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device for printed matter capable of detecting flaws that have reduced feature quantities, such as hickey defects, or the like, and to provide an inspection method for the printed matter.例文帳に追加

ヒッキー不良等の特徴量が少ない欠陥を検出することを可能とする印刷物検査装置及び印刷物検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nondestructive inspection apparatus that can measure the depth of any flaw in an inspection object without using a sample in which a plurality of defects differing in depth are made.例文帳に追加

深さの異なる複数の欠陥が設けられたサンプルを用いることなく、検査対象物の傷の深さを測定できる非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device and a semiconductor inspection method for accurately estimating the characteristics of defects generated in a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

半導体製造工程で発生した欠陥の特性を正確に推定することのできる半導体検査装置および半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method for a photomask and an inspection apparatus for a photomask, for determining a defect of a photomask for double patterning and verifying a degree of influences by defects.例文帳に追加

ダブルパターニング用フォトマスクの欠陥判定及び欠陥影響度を検証するフォトマスクの検査方法及びフォトマスクの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high-sensitivity, a high-throughput electron beam type inspection device and an inspection method for alleviating artificial defects caused by scanning shift of primary electron beams.例文帳に追加

一次電子ビームの走査ずれに起因する擬似欠陥を低減する高感度高スループット電子ビーム式検査装置と検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a lighting system and an inspection device for inspecting surface defects and pin holes of an object to be imaged by one inspection unit.例文帳に追加

撮像対象物の表面欠陥検査とピンホール検査を１つの検査ユニットで実現することができる照明装置と検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technique for preventing the occurrence of defects of an inspection due to lowering of the illuminance of an illumination section without using a substrate for an inspection.例文帳に追加

検査用基板を用いることなく照明部の照度の低下による検査の不具合が発生することを防ぐことができる技術を提供すること。 - 特許庁

To provide a workpiece inspection device which quickly, easily and stably can achieve high quality inspection of constituents, while excluding restrictions or defects in the conventional techniques.例文帳に追加

従来技術の制限、欠点を排除し、構成部品を迅速、簡便、かつ安定して高品質の検査を行える検査装置を提供する。 - 特許庁

To find defects at an early stage for improved inspection efficiency as a whole, related to the inspection method for a semiconductor device where a DRAM part and other circuits are placed together.例文帳に追加

ＤＲＡＭ部と他の回路が混載された半導体装置の検査方法において、不良品を早い段階で発見し、全体として検査効率を向上する。 - 特許庁

The shadow of uneven defects such as string dust and a black stop on the surface of the phosphor screen 2 can be found, the inspection is facilitated, and inspection accuracy can be improved.例文帳に追加

蛍光面２の表面上の糸ゴミ、黒点などの凹凸不良の影を発見でき、検査が容易となり、検査精度の向上を図ることができる。 - 特許庁

A lightness adjustment and hue adjustment of inspection light were made as a means of maintaining the lightness and hue of the inspection light in inspecting piezoelectric ceramics for defects.例文帳に追加

圧電セラミックスの欠陥検査時の検査光の明度，色相を一定にする手段として，検査光の明度調整，色相調整を行った。 - 特許庁

To provide a substrate inspection apparatus and a method for automatically detecting defects with little errors at low cost and classifying the defects, and in particular, to provide a substrate inspection apparatus and an automated inspection method for automated inspection to search and find defective particles and unintended defective figures by a designer on a substrate such as a mask reticle and for automated classification of these defects.例文帳に追加

低コスト且つ誤謬の少ない欠陥探索並びにその型分類を自動的に行なう基板検査装置とその方法、特にマスク・レチクル等の基板に於いて欠陥粒子及び設計者の意図とは異なる欠陥図形を探索発見する自動検査と、それ等欠陥の型の自動分類とを行なう基板検査装置及びその自動検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of inspecting surface defects of an automobile body and an inspection apparatus of surface defects of an automobile body, capable of accurately inspecting surface defects, even if the surface of a shell plate of the automobile body changes within a permissible range.例文帳に追加

自動車ボディの外板面が許容範囲内で変化しても、正確に表面欠陥を検査することのできる自動車ボディ表面欠陥検査方法、及び自動車ボディ表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for the inspection of defects, wherein internal defects inside a specimen such as a concrete structure or the like is detected, and information regarding defects can be detected quantitatively.例文帳に追加

コンクリート構造物などの被検査体における内部欠陥を検出するとともに、欠陥部位に関わる情報を定量的に検出することのできる欠陥検査方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method and apparatus of defects in a magnetic head for precisely detecting defects at a specific part of a head by extracting defects at the specific part of the head from captured images.例文帳に追加

ヘッドの特定の部分の欠陥を撮像画像から抽出してその部分の欠陥を精度よく検出することができる磁気ヘッドの欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an eddy current inspection device and an inspection method which enable an inspection of thickness reduction even if a specimen has a thick wall and enable, at the same time, measurements of defects such as scars and cracks to improve work efficiency of the inspection.例文帳に追加

肉厚の厚い被検体でも減肉が検査できつつ、きずや割れなどの欠陥が同時に測定可能となり、検査の作業効率が向上する渦電流検査装置および検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To develop a defect inspection method and a defect inspection device of a polarizing plate which can accurately detect only defects caused by a popularizing plate and an adhesive layer with simple device configuration, without detecting defects which are caused by a separate film and are not problematic, when inspecting defects of a polarizing plate with a separate film.例文帳に追加

セパレートフィルム付き偏光板の欠陥を検査する際に、簡便な装置構成にて、問題とならないセパレートフィルムに起因する欠陥を検出せず、偏光板本体および粘着剤層に起因する欠陥のみを精度よく検出できる欠陥検査方法・検査装置も開発。 - 特許庁

By preparing an inspection plate 100 and making a master information carrier 2 closely contact the plate 100 for inspection instead of a direct defect inspection using the master information carrier, defects on the master information carrier 2 are transferred to the plate 100 for inspection, and the defects are indirectly inspected on the plate 100.例文帳に追加

マスタ情報担体での直接的な欠陥検査に代わって、検査用基板１００を用意し、マスタ情報担体２を検査用基板１００に密着させることにより、マスタ情報担体２上の欠陥を検査用基板１００に転写し、検査用基板１００において間接的にマスタ情報担体２の欠陥を検査する。 - 特許庁

To provide a vulcanized rubber inspection system capable of accurately specifying the range of defects in the case that defects in chemical addition have occurred in the final kneading of rubber.例文帳に追加

ファイナルゴム混練において薬品添加の不良が生じた場合に不良の範囲をより正確に特定することができる加硫性ゴム検査システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a motor insulation inspection apparatus for detecting insulation defects of coils prior to being formed into a motor assembly and specifying sections at which the insulation defects have occurred.例文帳に追加

モータアッシとする前にコイルの絶縁不良を検出するとともに，その絶縁不良が発生している部位を特定するモータ絶縁検査装置を提供すること。 - 特許庁

To achieve an excellent observation of light scattering system defects, light absorption system defects and the like of an optical member in a lighting system, an inspection system and a lighting method.例文帳に追加

照明装置、検査システム、および照明方法において、光学部材の光散乱系欠陥や光吸収系欠陥等を良好に観察することができるようにする。 - 特許庁

To provide an apparatus for detecting defects of optical fiber, which corrects the positional misalignment of the optical fiber and can surely detect the internal defects of the optical fiber in an inspection process.例文帳に追加

光ファイバの位置ズレを修正し、検査工程で光ファイバの内部欠陥を確実に検出することが可能な光ファイバの欠陥検出装置を提供する - 特許庁

To provide an inspection apparatus and method for reducing pseudo defects, and for previously selecting and inspecting patterns which can cause defects after transfer.例文帳に追加

擬似欠陥を低減する一方で、転写後に欠陥を生じさせるおそれのあるパターンを予め拾い出して検査する検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

To obtain an evaluation method of crystal defects for evaluating the crystal defects that are generated in a thin-film SOI layer and a thin-film surface layer through inline inspection.例文帳に追加

薄膜ＳＯＩ層や薄膜表面層内に発生した結晶欠陥をインライン検査によって評価することが可能な、結晶欠陥の評価方法を得る。 - 特許庁

To provide a system and a method for preparing an inspection recipe and to provide a system and a method for reviewing defects, which contribute to the yield improvement of a product by detecting fatal defects at an early stage.例文帳に追加

致命欠陥を早期に発見して製品の歩留り向上に寄与する検査レシピ作成システム及び方法、欠陥レビューシステム及び方法を提供する。 - 特許庁

To improve the productivity of a semiconductor device by making causes of defects easily specificative by effectively utilizing reviewed results of the defects found in an inspection step.例文帳に追加

検査工程で発見された欠陥に対するレビュー結果を有効に活用することで不良原因の特定を容易にし、半導体デバイスの生産性を向上させる。 - 特許庁

To provide the inspection method which enables two-dimensional high speed visualization of defects existing within a semiconductor wafer, such as crystal defects.例文帳に追加

半導体ウェーハ中に存在する結晶欠陥などの欠陥を二次元的かつ高速で可視化することができる半導体ウェーハの結晶欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection method of a film for easily detecting even extremely small defects.例文帳に追加

非常に小さな欠陥であっても、容易に検出することを可能とするフィルムの検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for illuminating a sample during a sample inspection, for example, for finding defects, and to provide an apparatus for the method.例文帳に追加

例えば欠陥を探しての試料の検査のあいだ、試料を照射する方法および装置を提供する。 - 特許庁

To easily set an inspection area for accurately inspecting defects of a pattern formed on a wafer.例文帳に追加

ウェハに形成されたパターンの欠陥を高精度で検出できる検査領域の設定を簡単に実行する。 - 特許庁