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「gate region」に関連した英語例文の一覧と使い方(42ページ目) - Weblio英語例文検索
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gate regionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 4381



例文

On the surface of the semiconductor substrate 10, a p-type base region 13 is exposed in a belt-like form along the gate electrode 31.例文帳に追加

半導体基板10の表面にはゲート電極31に沿って、p型ベース領域13が帯状に露出している。 - 特許庁

In a valve control region I, a flow rate adjusting valve opening SPA and a waste gate valve opening WGA are kept "full close."例文帳に追加

バルブ制御領域Iにおいては流量調節バルブ開度SPA及びウェストゲートバルブ開度WGAを「全閉」に維持する。 - 特許庁

A stress in a direction of improving carrier mobility is applied to a channel region, where a starting point of stress application is determined to be the portion 25a of the gate electrode 5.例文帳に追加

ゲート電極5の部分25を起点としてチャネル領域にキャリア移動度を向上させる方向のストレスを印加する。 - 特許庁

The outer circumference of the opening region 28 is configured with a laminating structure, comprising a gate isolation film 21 and a sidewall isolation film 27.例文帳に追加

この開口領域28の外周部は、ゲート絶縁膜21とサイドウォール絶縁膜27の積層構造で構成される。 - 特許庁

例文

Thus, the polysilicon film 86 and the polysilicon film which is a control gate can be laminated on the source line formation region 88.例文帳に追加

このため、ソース線形成領域88上には、ポリシリコン膜86とコントロールゲートとなるポリシリコン膜とが積層されることになる。 - 特許庁


例文

A gate electrode 5a of the memory transistor TR1 is formed on an A plane and a B plane of side faces of the element formation region 100.例文帳に追加

メモリトランジスタTR1のゲート電極5aが素子形成領域100の側面のA面及びB面に形成される。 - 特許庁

A mask 17 is formed which has such a pattern that only a region of an i-AlGaN layer 12 where a gate electrode 15 is formed is opened.例文帳に追加

i−AlGaN層12のゲート電極15を形成する領域のみを開口させたパターンのマスク17を形成する。 - 特許庁

The gate electrode 3 is provided on the semiconductor region 9 which is composed of the III group nitride semiconductor and contains a phosphorus element 12.例文帳に追加

ゲート電極3が、III族窒化物半導体から成り燐元素12を含む半導体領域9上に設けられている。 - 特許庁

Then a memory source-drain region SDm is formed by ion implantation D01 using the dummy gate DG as an ion implantation mask.例文帳に追加

その後、ダミーゲートDGをイオン注入マスクとしたイオン注入D01によって、メモリソース・ドレイン領域SDmを形成する。 - 特許庁

例文

Then, the metal silicide layer 13 is formed on the gate electrodes 6a, 6b and the source/drain region with salicide technology.例文帳に追加

それから、サリサイド技術によりゲート電極6a,6bおよびソース・ドレイン領域上に金属シリサイド層13を形成する。 - 特許庁

例文

The insulated-gate structure 10 has a semiconductor region 12 consisting of gallium nitride introducing magnesium as impurities.例文帳に追加

絶縁ゲート構造体10は、マグネシウムが不純物として導入されている窒化ガリウムの半導体領域12を備えている。 - 特許庁

By this construction, a common diffusion area can be arranged in a region where the gate electrodes are opposed to each other.例文帳に追加

このような構造にすることで、ゲート電極同士が対向する領域に共通拡散領域を設けることが可能となる。 - 特許庁

A source/drain region 12a that is formed on a substrate 10 is electrically connected to a gate electrode 14 by the local wiring structure.例文帳に追加

基板10に形成されたソース・ドレイン領域12aとゲート電極14を局所配線構造で電気的に接続する。 - 特許庁

The gate layer 28 is formed of semiconductor material, whose forbidden band width is wider than that of an adjacent channel region.例文帳に追加

ゲート層28が、隣接するチャネル領域の禁制帯幅よりも広い禁制帯幅を有する半導体材料で形成される。 - 特許庁

A portion of the N-type semiconductor region 101 constituting the photodiode and a portion of the transfer gate electrode 103 are overlapped each other.例文帳に追加

PDを構成するN型半導体領域101の一部と転送ゲート電極103の一部とが互いに重なる。 - 特許庁

An erasure gate electrode 54 is formed in the element isolation region 61 while buried in the silicon oxide film 11.例文帳に追加

消去ゲート電極54は、シリコン酸化膜11の内部に埋め込まれる態様で、素子分離領域61内に形成されている。 - 特許庁

In a polysilicon liquid crystal display device, a pixel region 1, a source driver 2 and a gate driver 3 are formed on one substrate 5.例文帳に追加

このポリシリコン液晶表示装置は、画素部1とソースドライバ2とゲートドライバ3が同一基板5上に形成されている。 - 特許庁

To provide a nonvolatile memory unit having a high voltage endurance between an active region of a substrate and a control gate electrode.例文帳に追加

基板の活性領域と制御ゲート電極との間の高い耐電圧特性を有する不揮発性記憶装置を提供する。 - 特許庁

The second gate structure 52 is formed on the source region 25 through a second insulating film 32 thicker than the first insulating film 31.例文帳に追加

第2ゲート構造52は、第1絶縁膜31より厚い第2絶縁膜32を介してソース領域25上に形成される。 - 特許庁

Since the LDD region 8 is formed later than a gate electrode 4, TAT from programming to forwarding can be shortened.例文帳に追加

LDD領域8はゲート電極4より後に形成されるので、プログラム工程から出荷までのTATを短くできる。 - 特許庁

An impurity region 15 is formed on the semiconductor substrate 11 using the gate electrode 12 and the sidewall insulating film 14 as a mask.例文帳に追加

ゲート電極12およびサイドウォール絶縁膜14をマスクとして、半導体基板11に不純物領域15が形成される。 - 特許庁

A tunnel oxide film, a first gate electrode material, and a first CMP stopper material are sequentially formed in the cell region on a silicon substrate.例文帳に追加

シリコン基板上のセル領域に、順にトンネル酸化膜と第1ゲート電極材と第1CMPストッパー材を形成する。 - 特許庁

A drain region 275 is formed outside a control gate 270 which is formed on the sidewall of the insulating film plug 250 by a self alignment method.例文帳に追加

絶縁膜プラグ250の側壁に自己整列方式で形成された制御ゲート270の外側にドレイン領域275を形成する。 - 特許庁

A source/drain region is formed on both sides of the Y direction of a laminated gate electrode 6 and on the upper side of the silicone oxide film 8.例文帳に追加

ソース/ドレイン領域が積層ゲート電極6のY方向両脇で且つシリコン酸化膜8の上側に形成されている。 - 特許庁

A first high-concentration impurity region 31A is formed beside the gate electrode 22A in a semiconductor substrate 10.例文帳に追加

半導体基板10におけるゲート電極22Aの側方には第1高濃度不純物領域31Aが形成されている。 - 特許庁

A pair of source/drain regions are formed in the surface of the semiconductor substrate so as to pinch a region below the gate electrode.例文帳に追加

半導体基板の表面内には、ゲート電極の下の領域を挟むように1対のソース/ドレイン領域が形成される。 - 特許庁

The bidirectional zener diode formed in the p^--type region 2b is connected between a source and a drain and between a source and a gate.例文帳に追加

また、p^-型領域2bに形成された双方向ツェナーダイオードは、ソース−ドレイン間およびソース−ゲート間に接続されている。 - 特許庁

This polysilicon layer is selectively etched in such a manner that a gate region is formed on a part of the trench of the core area.例文帳に追加

このポリシリコン層は、前記コアエリアの前記トレンチの一部分にゲート領域を形成するように選択的にエッチングされる。 - 特許庁

In the region D, a switching transistor containing a gate electrode 7 and n^+ type source drain regions 5a-5c, and a capacitor are formed.例文帳に追加

領域Dではゲート電極7およびN+型ソース・ドレイン領域5a〜5cを含むスイッチングトランジスタとキャパシタが形成される。 - 特許庁

Phosphorus is diffused selectively into the polysilicon layer 12 as a whole, in a region for the formation of a split gate type flash EEPROM cell (MC).例文帳に追加

そして、スプリットゲート型フラッシュEEPROMセル(MC)の形成領域における、ポリシリコン層12の全体に選択的にリンを拡散する。 - 特許庁

The isolation method also includes forming of an isolation gate over substantial portions of a field isolation region to isolate pixels in an array of pixels.例文帳に追加

分離方法では更に、電界分離領域の大部分の上に分離ゲートを形成して、ピクセルアレイのピクセルを互いに分離する。 - 特許庁

This sensor includes a pickup region positioned on one of first and second source/drain regions on either side of a source follower gate.例文帳に追加

このセンサは、ソースフォロワーゲート両側の第1または第2ソース/ドレイン領域の一側に配置されたピックアップ領域を含む。 - 特許庁

In the inside of the trench, a trench lower portion insulating film is formed thicker than a surface gate oxide film in the first semiconductor region.例文帳に追加

トレンチの内部において、トレンチ下部絶縁膜が、第1半導体領域の表面ゲート酸化膜より厚く形成されている。 - 特許庁

The pixel electrode is formed inside the pixel region by the bank formed by discharging on the data line and the gate line.例文帳に追加

画素電極はデータ配線とゲート配線の上に吐出されて形成されたバンクにより画素領域の内側に成膜される。 - 特許庁

A sufficient breakdown voltage is thereby ensured even when an operation for grounding the back-gate region and a drain electrode is performed.例文帳に追加

これにより、バックゲート領域とドレイン電極を接地する動作を行った場合でも十分な耐圧を確保することができる。 - 特許庁

A gate electrode 12 for NMOS formed of an electrode material 34 for NMOS is formed at the NMOS formation region 8.例文帳に追加

NMOS形成領域8には、NMOS用電極材料34からなるNMOS用ゲート電極12を形成する。 - 特許庁

The sub liquid crystal panel is provided with a second gate line group and a second data line group in a second display region so that a second video is displayed.例文帳に追加

サブ液晶パネルは、第2表示領域に第2ゲートライン群と第2データライン群とを具備して第2映像を表示する。 - 特許庁

A gate electrode 103 is provided on a monocrystal Si substrate 101 through the intermediary of a gate oxide film 102, a side wall insulating film 105 is provided on each side of the gate electrode 103, and a LOCOS oxide film 104 is provided as an element isolating region.例文帳に追加

単結晶Si基板101にゲート酸化膜102を介してゲート電極103が設けられ、ゲート電極103の両側部に側壁絶縁膜105が設けられ、素子分離領域としてLOCOS酸化膜104が設けられている。 - 特許庁

In each sector region 210, four main control gate lines MCG extending along a row direction B, control gate driving sections CGDRV0-3 driving them, and a plurality of sub-control gate lines SCG extending alog a column direction A are provided.例文帳に追加

各セクタ領域210には、行方向Bに沿って延びる4本のメインコントロールゲート線MCGと、それらを駆動するコントロールゲート駆動部CGDRV0〜3と、列方向Bに沿って延びる複数のサブコントロールゲート線SCGとが設けられる。 - 特許庁

By selectively removing this polysilicon film 19 and the gate insulating film 18, a gate electrode 22, the alignment mark part 23, and the gate electrode 24 for the anti fuse part are formed on the element region, in the second recess 13, and in the bottom surface of the third recess 14 respectively.例文帳に追加

このポリシリコン膜19、ゲート絶縁膜18が選択的に除去され、素子領域上にゲート電極22、前記第2の凹部13に合わせマーク部23、第3の凹部14の底表面にアンチフューズ部用のゲート電極24が形成される。 - 特許庁

Thus, when the negative voltage applied to the trench gate is equal, the breakdown voltage of the element region when a defect is present in the trench gate electrode is measured to be lower than that when a defect is absent in the trench gate electrode.例文帳に追加

このため、トレンチゲート電極に印加する負の電圧が等しければ、トレンチゲート電極に不良がある場合の素子領域の耐圧は、トレンチゲート電極に不良がない場合の素子領域の耐圧に比べて低い耐圧が測定される。 - 特許庁

To provide a TFT array inspection device which detects defects of a gate drive circuit on a substrate having two gate drive circuits in a TFT array region, even in the case that one of the gate drive circuits has the defects.例文帳に追加

1つのTFTアレイ領域に2つのゲート駆動回路が設けられた基板においてゲート駆動回路の検査を行う場合において、いずれか一方のゲート駆動回路に欠陥がある場合でもゲート駆動回路の欠陥を検出する。 - 特許庁

A lower gate electrode 29, a ferroelectric thin film 18 and a metal gate electrode 19 are sequentially formed on the gate region 13 positioned on the uppermost part of the ridge-type multilayer film laminated structure 20, and they constitute a ferroelectric capacitor.例文帳に追加

また、リッジ型の多層膜積層構造20の、最上部に位置するゲート領域13上には、下部ゲート電極29、強誘電体薄膜18及び金属ゲート電極19が順次に形成されて、強誘電体キャパシタを構成している。 - 特許庁

On a semiconductor substrate 1, a gate insulating film 6, a gate electrode 7 formed on the gate insulating film 6, a thermal oxide film 2 formed on a source/drain region 4, and an insulating film 5 formed on the thermal oxide film are formed.例文帳に追加

半導体基板1には、ゲート絶縁膜6と、ゲート絶縁膜6上に形成されたゲート電極7と、前記ソース/ドレイン領域4上に形成された熱酸化膜2と、熱酸化膜上に形成された絶縁膜5とが形成されている。 - 特許庁

In an NMOS region on the semiconductor substrate 10, an n-type gate electrode 21 is formed via a second gate insulating film 20, with a second sidewall 26 of a relatively thin film formed on the side surface of the n-type gate electrode 21.例文帳に追加

半導体基板10上のNMOS領域には第2のゲート絶縁膜20を介してn型ゲート電極21が形成され、該n型ゲート電極21の側面には相対的に小さい膜厚を有する第2のサイドウォール26が形成されている。 - 特許庁

In the leak current measurement, a source/drain region is defined as reference potential (ground potential), a gate voltage Vg is defined as a parameter, and a gate voltage value Vgb is searched for a current Ig flowing to the gate electrode 12 to get out of a current allowable range for operation as a product.例文帳に追加

リーク電流測定は、ソース/ドレイン領域を基準電位(接地電位)、ゲート電圧Vgをパラメータとし、ゲート電極12に流れる電流Igが製品として動作させる電流の許容範囲から逸脱するゲート電圧値Vgbを探索する。 - 特許庁

Each cell region 24 has an n+ semiconductor layer 14 and a p-type semiconductor layer 12 connected with the emitter electrode 26, a gate electrode 20, and an interlayer insulating film 22 which covers the gate electrode 20 and insulates the gate electrode 20 for the emitter electrode 26.例文帳に追加

各セル領域24は、エミッタ電極26に接続されたn+半導体層14及びp型半導体層12と、ゲート電極20と、ゲート電極20を覆ってエミッタ電極26に対して絶縁する層間絶縁膜22とを有する。 - 特許庁

A nitride film sidewall is formed on a side wall of a gate electrode, and a gate oxide film on a source/drain formation-predetermined-region is removed by a wet etching to form an undercut under the nitride film sidewall but no undercut under the gate electrode.例文帳に追加

ゲート電極の側壁に窒化膜サイドウォールを形成し、ウエットエッチングにより、ソース・ドレイン形成予定領域上のゲート酸化膜を除去することにより、窒化膜サイドウォール下方にアンダーカットが入るが、ゲート電極下方にはアンダーカットは入らない。 - 特許庁

A first conductivity diffusion region 14 constituting the well contact is formed within the same active region as the diffusion regions 8, 10 and 12, and separated from the second conductivity diffusion region 12 by a separation gate 13.例文帳に追加

ウェルコンタクトを構成する第1導電型の拡散領域14は、拡散領域8、10、12と同一活性領域内に形成され、且つ、第2導電型の拡散領域12に対して、分離ゲート13により分離されている。 - 特許庁

例文

The oxide film 13 in a logic section is formed, in contact with the lower surface of a first diffusion region 22 and away from the element isolation insulating film 11, in a region below a gate electrode 21 and a first diffusion region 22.例文帳に追加

ここで、ロジック部の埋め込み酸化膜13は、第1の拡散領域22の下面に接してかつ素子分離絶縁膜11と離間して、ゲート電極21及び第1の拡散領域22の下方の領域に形成されている。 - 特許庁




  
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