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「isolation region」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索
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isolation regionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1185



例文

To prevent a generation of a bird's beak on a surface of an element formation region due to a thick element isolation film formed in an element isolation region, to prevent an occurrence of a crystal defect in a semiconductor layer near an end of the element isolation film, and to reduce a stress received by the semiconductor layer, in a semiconductor device having a plurality of element formation regions and a method of manufacturing the same.例文帳に追加

複数の素子分離領域で分離された複数の素子形成領域を有する半導体装置及びその製造方法において、素子分離領域に形成される膜厚の厚い素子分離膜による素子形成領域の表面のバーズビークの発生を防ぐこと、並びに素子分離膜の端部近傍の半導体層に結晶欠陥が発生することを防止し、且つ該半導体層が受けるストレスの低減を図る。 - 特許庁

The element isolation region having a channel widthwise direction of the MOSFET has a dummy layer 3 formed as part of the semiconductor layer 1 and not formed with an element, and an element isolation insulating layer 2 formed to have minimum processed dimensions between the MOSFET and the dummy layer 3.例文帳に追加

MOSFETのチャネル幅方向の素子分離領域は、半導体層1の一部であって素子が形成されないダミー層3と、MOSFETとダミー層3との間に最小加工寸法で形成される素子分離絶縁層2とを有する。 - 特許庁

The emitter extraction electrodes 21 are located on both sides of the polycrystalline silicon film 7 which is continuously formed from above the element isolation film 3 on a side over the active region 2a to the top of the element isolation film 3 on the opposite side.例文帳に追加

ここで、エミッタ引き出し電極21は、一方の素子分離膜3の上から活性領域2aの上を通って反対側の素子分離膜3の上にまで連続して設けられた多結晶シリコン膜7の両側に配置されている。 - 特許庁

An element separating region 24 comprising the first shallow buried element isolation insulating film 22 and the second buried element isolation insulating film 23 deeper than the first insulating film 22 is formed on the surface of a P type silicon substrate 11.例文帳に追加

たとえば、P型シリコン基板11の表面部に、浅い第一の埋め込み素子分離絶縁膜22と、この第一の埋め込み素子分離絶縁膜22よりも深い、第二の埋め込み素子分離絶縁膜23とからなる素子分離領域24を形成する。 - 特許庁

例文

To provide a technique, as to a semiconductor device which is formed on an SOI substrate and in which a periphery of an element region of a semiconductor layer constituting the SOI substrate is enclosed by element isolation, capable of preventing deterioration of reliability caused by the element isolation.例文帳に追加

SOI基板に形成され、SOI基板を構成する半導体層の素子領域の周囲が素子分離により囲まれた半導体装置において、素子分離に起因する信頼度の低下を防ぐことのできる技術を提供する。 - 特許庁


例文

The isolation structure includes a dopant region containing a first conductive-type material selectively formed along sidewalls 105a, 105b of the isolation structure where the surface pinning layer is adapted so as to electrically connected to a substrate 150 located beneath.例文帳に追加

分離構造体は、表面ピニング層を下にある基板150に電気的に結合するように適合されている、分離構造体の側壁105a,105bに沿って選択的に形成された、第1の導電型の材料を含んだドーパント領域を含む。 - 特許庁

The semiconductor device manufactured by this manufacturing method comprises an active region including a high-voltage element region and a low-voltage element region, a semiconductor substrate 100 defined as an inactive region, an element isolation film 110 formed on the inactive region of the semiconductor substrate 100, and a gate oxide film 120 formed on the high-voltage region of the semiconductor substrate so that it has a uniform thickness.例文帳に追加

本発明の製造方法により製造された半導体素子は、高電圧素子領域と低電圧素子領域とを含む活性領域と、不活性領域とで定義される半導体基板と、前記半導体基板の不活性領域に形成される素子分離膜と、前記半導体基板の高電圧素子領域上に均一な厚さを有するように形成されるゲート酸化膜とを含む。 - 特許庁

In the photoelectric conversion device having the charge retention portion, of an element isolation region in contact with a semiconductor region is disposed in the semiconductor substrate from a reference level including a light reception surface of the photoelectric conversion element up to the depth equal to the semiconductor region or the depth deeper than the semiconductor region when compared with the semiconductor region comprised of the charge retention portion.例文帳に追加

電荷保持部を有する光電変換装置において、電荷保持部を構成する半導体領域に比べて、その半導体領域と接する一部の素子分離領域が、光電変換素子の受光面を含む基準面から半導体基板に、その半導体領域と等しい深さまで、もしくはその半導体領域より深くまで設けられている。 - 特許庁

Semiconductor structures 6 to 12 are formed in an element forming region on an SOI substrate 4, on the surface of which a silicon oxide film 14 is formed, the film 14 having an opening 16 corresponding to an element isolation region circling the element forming region on the surface of the SOI substrate 4.例文帳に追加

SOI基板4の素子形成領域に半導体構造6〜12を形成し、SOI基板4の表面において素子形成領域を一巡する素子分離領域に対応する開口16を有する酸化シリコン膜14をSOI基板4の表面に形成する。 - 特許庁

例文

A side of a contact C_FD side of both the gate electrodes G_1 and G_2 or either of them protrudes on a boundary (broken line) between the FD region and the element isolation region to a side where the contact C_FD exists more than the other parts in contact with the FD region.例文帳に追加

ゲート電極G_1,G_2の双方または何れか一方におけるコンタクトC_FD側の辺は、FD領域と素子分離領域との境界線(破線)上において、FD領域に接する他の部分と比べて、コンタクトC_FDが存在する側へ突出している。 - 特許庁

例文

The interface between the first semiconductor region and the second semiconductor region is located at a first depth in a part corresponding to the photoelectric conversion element, and is located at a second depth smaller than the first depth in a part arranged in lower parts of the element isolation region and the floating/diffusing part.例文帳に追加

そして、第1の半導体領域と前記第2の半導体領域との界面は、光電変換素子に対応する部分においては第1の深さにあり、素子分離領域および浮遊拡散部の下部に配された部分においては第1の深さよりも浅い第2の深さにある。 - 特許庁

A semiconductor device 100 has a semiconductor multilayer portion 11 where nitride semiconductor layers 6 and 10 having different band gaps are laminated, and the semiconductor multilayer portion 11 has an element region 100a and an element isolation region 100b formed around the element region 100a.例文帳に追加

半導体装置100は、バンドギャップを異にする窒化物半導体層6、10が積層されている半導体積層部11を有しており、半導体積層部11が素子領域100aと素子領域100aの周囲に形成されている素子分離領域100bを備えている。 - 特許庁

The semiconductor device includes: a semiconductor substrate 101 having an active region 103 isolated by an element isolation region 102; a gate insulating film 111 formed on an active region 103; and a gate electrode 121 formed on the gate insulating film 111.例文帳に追加

半導体装置は、素子分離領域102により分離された活性領域103を有する半導体基板101と、活性領域103の上に形成されたゲート絶縁膜111と、ゲート絶縁膜111の上に形成されたゲート電極121とを備えている。 - 特許庁

Between a p-gate diffusion region 23 on the left side and a p-gate diffusion region 23' on the right side on an n-type silicon substrate, and in between the CH1 and the CH2, a channel isolation region 29 is formed of an oxygen doped semi-insulating polycrystalline silicon film 35a doped with phosphorus.例文帳に追加

そして、N型シリコン基板上における左側のPゲート拡散領域23と右側のPゲート拡散領域23'との間であって、CH1とCH2との間に、リンがドープされた酸素ドープ半絶縁多結晶シリコン膜35aでなるチャネル分離領域29が形成されている。 - 特許庁

A second groove which is formed in accordance with the formation of a first groove provided so as to surround a light-receiving region and used for element isolation is provided in the light-receiving region, and a conduction wiring for extracting electric charges accumulated in the semiconductor substrate in the light-receiving region is provided in the second groove.例文帳に追加

受光領域内には、受光領域を囲繞して設けた素子分離に用いる第1の溝の形成にともなって形成した第2の溝を設け、この第2の溝内に、受光領域内の半導体基板に蓄積された電荷を取出す導通配線を設ける。 - 特許庁

The solid state image sensor has a pixel region where pixels 38, each consisting of a photoelectric conversion part PD and a plurality of pixel transistors, are arranged two-dimensionally, and an element isolation region 41 which isolates between pixels formed in the pixel region and constituted of a semiconductor layer 43 embedded in a trench 42 by epitaxial growth.例文帳に追加

光電変換部PDと複数の画素トランジスタからなる画素38が2次元配列された画素領域と、画素領域内に形成され、トレンチ42内にエピタキシャル成長による半導体層43が埋め込まれて構成された画素間を分離する素子分離領域41を有する。 - 特許庁

The semiconductor memory device 300 includes a first memory element 100 and a second memory element 200 isolated mutually by an element isolation region 38, and a first impurity diffused region 16 and a second impurity diffused region 14.例文帳に追加

本発明の不揮発性半導体記憶装置300は、ウエハ11に形成されかつ素子分離領域38によって互いに分離された第1記憶素子100および第2記憶素子200と、第1不純物拡散層16および第2不純物拡散層14とを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor device exhibiting excellent isolation characteristic by shielding leakage signals in high frequency region propagating on the surface or the upper region of a semiconductor substrate and suppressing mutual interference in high frequency region between high frequency circuit blocks.例文帳に追加

半導体基板の表面や上部領域を伝播してくる高周波域における漏洩信号を遮蔽し、形成された高周波回路ブロック間における高周波域における相互干渉を抑制することにより、素子分離特性の優れた半導体装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor device comprises a fin-type active region defined on a semiconductor substrate having a device isolation structure, a recess formed over the fin-type active region, and a gate electrode formed over the fin-type active region, including a silicon germanium layer for burying the recess.例文帳に追加

半導体素子は、素子分離構造を備えた半導体基板に画成されたフィン型活性領域と、フィン型活性領域の上部に形成されたリセスと、フィン型活性領域の上部に形成され、前記リセスを埋め込むシリコンゲルマニウム層を含むゲート電極とを含む。 - 特許庁

The semiconductor device includes an MIS transistor comprising a semiconductor substrate having an element isolation region, a diffusion region formed on the semiconductor substrate, a gate electrode formed on the semiconductor substrate through a gate insulation film, and a silicide layer (3) formed on the diffusion region.例文帳に追加

素子分離領域を有する半導体基板と、前記半導体基板に形成された拡散領域と、前記半導体基板上にゲート絶縁膜を介して形成されたゲート電極と、前記拡散領域上に形成されたシリサイド層(3)とを具備するMISトランジスタを含む半導体装置である。 - 特許庁

Arrangement should be such that heater(s) 3 in another region Q range out to that region in each area 2a-2e, where the heater density owing to the isolation has become coarse, for example the region P if the area 2b applies, and thereby the calorific power per unit area within the plane of hot plate 2 is made uniform.例文帳に追加

そして,各エリア2a〜2e内の当該離隔により生じたヒータ3の密度が疎になった領域,例えばエリア2bでは領域Pに他の領域Qのヒータ3をはみ出させて配置し,熱板2面内の単位面積あたりの発熱量を均一にする。 - 特許庁

A method for manufacturing the semiconductor device includes a step of forming an n-type well 13 on a surface region of an Si substrate 12, forming p-type first semiconductor regions 17a, 18a on the surface region of the well 13, and separating the first semiconductor regions 17a, 18a by an element isolation region 11.例文帳に追加

Si基板12の表面領域にn型のウェル13を形成し、このウェル13の表面領域にp型の第1の半導体領域17a,18aを形成し、この第1の半導体領域17a,18aを素子分離領域11で分離している。 - 特許庁

At least one of the source region 106 and the drain region 106 has a second face for coming into contact with contact wiring; the second face inclines with respect to a first face AA' and intersects with the surface of the element isolation region at not higher than 80 degrees.例文帳に追加

ソース領域106およびドレイン領域106の少なくとも一方は、コンタクト配線と接触するための第2の面を有し、第2の面は、第1の面AA’に対して傾いており、第2の面は、素子分離領域の表面と80度以下の角度で交差する。 - 特許庁

In the source/drain regions 131 and 132, source/drain conductors 155 are so formed as to be stretched over the source/drain regions 131 and 132 and an element isolation region 102.例文帳に追加

また、ソース/ドレイン領域131,132においては、ソース/ドレイン導電体155をソース/ドレイン領域131,132と素子分離領域102にまたがるように形成する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a flash memory which forms a double profile at an upper corner of an active region, when an element isolation film is formed of steps of manufacturing the memory.例文帳に追加

フラッシュメモリ製造工程のうち素子分離膜を形成する際に活性領域の上部角に二重プロファイルを形成するフラッシュメモリの製造方法を提供すること。 - 特許庁

To shorten the time for completion by simplifying the steps of well formation and element isolation region formation, and to reduce the manufacturing cost by decreasing the number of costly lithographic steps.例文帳に追加

ウェルの形成と素子の分離領域の形成の工程を簡略化して、工期の短縮を可能にし、高価なフォトリソ工程を減らしてコスト削減を可能にする。 - 特許庁

The film 331 and the well 332 are isolated in a band-like state by an element isolation region 316 and the film 353, and functioned as the bit lines.例文帳に追加

ポリシリコン膜331およびP型のウェル部分332は素子分離領域316および絶縁膜352によって帯状に分離され、ビット線として機能する。 - 特許庁

In the manufacturing method, an intrinsic base diffusion layer 7 is formed in almost a central part of a semiconductor region 2 which is enclosed with an isolation insulation film 3 in a main surface of a semiconductor substrate 1.例文帳に追加

半導体基板1の主面において分離絶縁膜3に囲まれた半導体領域2の略中央部に真性ベース拡散層7を形成する。 - 特許庁

The two gates may be each entirely disposed on the isolation structure or partially overlap a side portion of the middle region of the active area.例文帳に追加

これら2つのゲートの各々は、その全体がアイソレーション構造上に配置されてもよいし、部分的にアクティブ領域の中央領域の側方部分に重なってもよい。 - 特許庁

The impurity diffusion regions facing each other across the element isolation region among the impurity regions of the plurality of active regions are electrically connected.例文帳に追加

前記複数の活性領域の前記不純物拡散領域のうち、前記素子分離領域を挟んで向かい合う不純物拡散領域は、電気的に接続される。 - 特許庁

(3) The base isolation device of Claim 2, wherein the order N has a N-value at the point of a coordinate (L, N) in a closed region where a plurality of points, shown in Fig.6, are joined via lines in sequence.例文帳に追加

(3)次数Nを、座標(L,N)にて、図6の複数の点を順次直線でつないだ閉領域内にある点のN値とした、(2)記載の免震装置。 - 特許庁

To form a high quality element isolation region in a short time and reduce the size thereof.例文帳に追加

高品位な素子分離領域を短時間で形成することができると共に、素子分離領域の縮小化を図ることができる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a method of manufacturing a semiconductor device the transistor characteristics of which are hardly deteriorated due to the reduction of a film thickness in an element isolation region without complicating a process.例文帳に追加

プロセスを複雑化することなく、素子分離領域の膜減りによるトランジスタ特性の悪化が生じにくい半導体装置の製造方法を実現できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a junction leakage due to silicidation is prevented by suppressing formation of a divot (depression) on an interface between an active region and a device isolation insulating film.例文帳に追加

半導体装置において、活性領域と素子分離絶縁膜の界面に形成されるディボット(窪み)を抑制して、シリサイド化による接合リークの発生を防止する。 - 特許庁

Further, the multiple SOI-Si layers 14 and 15 with properly different heights are formed after the device isolation region 13 with an even height has been formed on a semiconductor substrate 11.例文帳に追加

また、半導体基板に一様な高さの素子分離領域13を形成してから複数の適宜に高さの異なるSOI−Si層14、15を形成する。 - 特許庁

Further, an N-type region 4 electrically floated from a circumference is formed at the part of the epitaxial layer 3 which faces the resistance element 7 across the element isolation film 6.例文帳に追加

また、エピタキシャル層3における素子分離膜6を挟んで抵抗素子7と対向する部分には、周囲から電気的にフローティングされたN型領域4を形成する。 - 特許庁

A bottom part of the bowing profile enters into the silicon semiconductor substrate, beyond the high concentration impurity diffusion semiconductor layer and improves the leakage characteristics of the element isolation region.例文帳に追加

ボーイング形状部底部は、高濃度不純物拡散半導体層を越えてシリコン半導体基板内に入り込み素子分離領域のリーク特性が向上する。 - 特許庁

To restrain projection structure formation in the selective growth of a semiconductor layer using a mask at manufacturing an optical semiconductor integrated device with an element isolation region.例文帳に追加

素子分離領域を有する光半導体集積装置の製造において、マスクを使った半導体層の選択成長時における突起構造の形成を抑制する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device manufacturing method which can reduce crystal defects, etc. occurring from an element isolation region, and also to provide a semiconductor device manufactured by the same.例文帳に追加

素子分離領域から発生する結晶欠陥等の発生を低減することができる半導体装置の製造方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a wide trench isolation region is formed which does not hollow the silicon substrate, and a method of manufacturing the same.例文帳に追加

広幅トレンチ分離帯を形成しても、シリコン基板のえぐれが生じないトレンチ分離帯を形成する半導体装置の製造方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

The sidewall film 6 has the groove 60 provided on the surface of the active region 2a embedded and is provided astride a border 50 between the groove 60 and the element isolation film 3.例文帳に追加

この側壁膜6は、活性領域2aの表面に設けられた溝60を埋め込むとともに、溝60と素子分離膜3との境界50にまたがって設けられる。 - 特許庁

Furthermore, the depth of an N type charge storage region where the impurity concentration of the photoelectric conversion element part 3 is maximized is shallower than the depth of the trench isolation part 5.例文帳に追加

しかも、光電変換素子部3の不純物濃度が最大となるN型電荷蓄積領域の深さがトレンチ分離部5の深さよりも浅く構成されている。 - 特許庁

A semiconductor device is provided with an isolation insulating film 4 formed over the main surface of a semiconductor substrate 1 comprising a first conductivity type region 2 and a field-effect transistor 38a.例文帳に追加

半導体装置は、第1導電型領域2を含む半導体基板1の主表面に形成された分離絶縁膜4と、電界効果型トランジスタ38aとを備える。 - 特許庁

At the surface layer portion of a semiconductor substrate, a device isolation insulating film which projects from a surface of the semiconductor substrate is formed to demarcate the active region.例文帳に追加

半導体基板の表層部に、該半導体基板の表面よりも上方に突出した素子分離絶縁膜を形成することにより活性領域を画定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a parasite transistor is not generated in an isolation region thereof, and spacing between devices can be reduced; and to provide a method of manufacturing the semiconductor device.例文帳に追加

素子分離領域に寄生トランジスタの発生しない,また素子間隔を狭めることのできる半導体装置,及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

On this occasion, the formation is carried out so that the distance between the opening and the neighboring active region can be varied by the width of the element isolation film pattern under the selected opening.例文帳に追加

この時、開口部とこれに隣接する活性領域との間の距離を選択された開口部の下の素子分離膜パターンの幅によって変えるように形成する。 - 特許庁

The element isolation region of an IGBT chip 21 is divided into 19 blocks 22, where cells are provided in array, and a split gate electrode 30a is provided to each of the blocks 22.例文帳に追加

IGBTのチップ21の素子形成領域は、セルが配列形成された19個のブロック22に分割され、各ブロック22には分割ゲート電極30aが形成される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which is isolated by a shallow recess type element isolation structure which has such a structure that there is no generation of dishing in an isolated region.例文帳に追加

浅溝型素子分離構造により素子分離した半導体装置にあって、ディッシングが素子分離領域に生じないような構成を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently transfer a signal charge without affected by potential of an element isolation region even when a pixel is miniaturized and a gate width of a transfer gate is reduced.例文帳に追加

本発明は、画素を微細化してトランスファゲートのゲート幅が縮小されても、素子分離領域の電位の影響を受けずに信号電荷を転送することを特徴とする。 - 特許庁

例文

An element isolation structure 11 is formed on a silicon wafer 10, a dummy gate oxide film and a dummy gate are formed in an active region, and the entire surface of the wafer is covered with a thin silicon nitride film 31.例文帳に追加

シリコンウェハ10上に素子分離構造11を形成し、活性領域にダミーゲート酸化膜およびダミーゲートを形成し、ウエハ全面を薄い窒化シリコン膜31で覆う。 - 特許庁




  
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