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「isolation region」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索
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isolation regionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1185



例文

The silicon film 15 is used as a single crystalline section 15a on a semiconductor substrate 11 and as a polycrystalline section 15b on an element isolation region 12.例文帳に追加

ドレイン配線用シリコン膜15は、半導体基板11の上において単結晶部15aとなり、素子分離領域12の上において多結晶部15bとなる。 - 特許庁

To suppress cracking in an element isolation region as a layer under a metal wiring to be removed by laser trimming in a semiconductor device having the metal wiring.例文帳に追加

レーザートリミングによって除去される金属配線を有した半導体装置において、金属配線の下層の素子分離領域においてクラックの発生を抑止する。 - 特許庁

An SOI layer 3 is formed on an embedded oxide film layer (BOX layer) 2, and a MOS transistor 10 is formed in the active region specified by an isolation insulating film 5 on the SOI layer 3.例文帳に追加

埋込酸化膜層(BOX層)2上に形成されたSOI層3には、分離絶縁膜5で規定された活性領域にMOSトランジスタ10が形成されている。 - 特許庁

In the element formation regions demarcated by the isolation 105, a diffusion layer region 111 is formed, and a diffusion layer electrode 113b is formed thereon.例文帳に追加

上記素子分離105により画成された素子形成領域には、拡散層領域111、その上部にシリサイドで構成された拡散層電極113bが形成されている。 - 特許庁

例文

An element isolation LOCOS film 103 is formed around a first element region on a surface of an N type epitaxial layer 102 formed on an N type silicon substrate 101.例文帳に追加

N型シリコン基板101上に形成されたN型エピタキシャル層102も表面に、第1の素子領域を囲んで素子分離LOCOS膜103が形成される。 - 特許庁


例文

The gate trench 10a is first formed on a silicon substrate 10, and then, an element isolation region 16a is formed on the silicon substrate 10 where the gate trench 10a is formed.例文帳に追加

まずシリコン基板10上にゲートトレンチ10aを形成し、次いでゲートトレンチ10aが形成されたシリコン基板10上に素子分離領域16aを形成する。 - 特許庁

In the part of a semiconductor single-crystalline layer on a silicon semiconductor substrate 2, insulating films 4a, 4b for shallow trench isolation(STI) are formed to isolate an element formed region.例文帳に追加

シリコン半導体基板2上の半導体単結晶層の一部には、素子形成領域を分離するためSTIである絶縁膜4a、4bが形成されている。 - 特許庁

The semiconductor device includes an element isolation insulating film 14 formed on the surface of a semiconductor substrate to surround an element region on the plane of the semiconductor substrate 11.例文帳に追加

半導体装置は、半導体基板11の平面において素子領域を囲むように半導体基板の表面に形成された素子分離絶縁膜14を含む。 - 特許庁

To improve integration density of cells per unit area by enabling to reduce the region of p-n junction and isolation parts and the regions formed of p-type semiconductor of cells.例文帳に追加

pn接合分離部の領域や、セルのp型半導体で構成される領域を小さくできるようにし、単位面積当たりのセルの集積密度を向上させる。 - 特許庁

例文

A device isolation oxide film is etched to form a silicon fin that protrudes, and then a gate electrode and a source/drain region, of which tops are flattened, are formed after a channel region being formed on a sidewall of the silicon fin by means of inclined ion implantation.例文帳に追加

素子分離酸化膜を食刻して突出されたシリコンフィンを形成し、傾斜イオン注入でシリコンフィンの側壁にチャンネル領域を形成したあと上部が平坦化したゲート電極とソース/ドレイン領域を形成する。 - 特許庁

例文

In a method for manufacturing a semiconductor device, a silicon nitride film 112 in which a region corresponding to an element isolation region is opened is used as a mask, and a part of a silicon oxide film 111 and a semiconductor silicon substrate 110 is removed by sequential etching to form a trench 114.例文帳に追加

素子分離領域に対応する領域が開口されたシリコン窒化膜112をマスクとしてシリコン酸化膜111および半導体シリコン基板110の一部を順次エッチングにより除去してトレンチ14を形成する。 - 特許庁

Consequently, the second gate insulating film is left nearby the device isolation insulating film in the first active region and in the entire second active region, so a divot is not formed or formed in a small size even when formed.例文帳に追加

これにより、第1の活性領域の素子分離絶縁膜近傍、並びに第2の活性領域の全体では、この第2のゲート絶縁膜が残っているため、ディボットが生じることがないか、生じたとしてもサイズが小さくなるのである。 - 特許庁

To accelerate a writing operation and an erasing operation and to reduce power consumption by reducing the resistance of a well region in a semiconductor storage device having well regions partitioned by an element isolation region used as bit lines.例文帳に追加

素子分離領域により区分されたウェル領域をビット線として使用する半導体記憶装置において、ウェル領域を低抵抗化することで書込み動作および消去動作を高速化および低消費電力化する。 - 特許庁

To improve gate breakdown voltage and reliability by relaxing concentration of electric field at a step part formed near a boundary between an active region and a field region trench, and suppressing production of a parasitic MOS in manufacture of a trench element isolation.例文帳に追加

トレンチ素子分離の製造において、アクティブ領域とフィールド領域トレンチの境界付近に生じる段差部への電界集中を緩和し、寄生MOSの生成を抑制して、ゲート耐圧の向上、信頼性の向上を図る。 - 特許庁

To prevent variations in gate resistance caused by the fact that polysilicon of the gate cannot be extracted because of variations in height of the active region and the element isolation region in a transistor which is fabricated by gate-last process.例文帳に追加

ゲートラストプロセスで作製するトランジスタにおいて、活性領域と素子分離領域の高さばらつきのためゲートのポリシリコンを抜くことができないことにより、ゲートの抵抗にばらつきが生じるのを防ぐことを目的とする。 - 特許庁

Accordingly, a silicon interface state (Qss) in the vicinity of the channel isolation region 29 on the surface of the n-type silicon substrate increases, and holes or minority carriers in the n-type silicon substrate disappear in the region.例文帳に追加

したがって、上記N型シリコン基板の表面におけるチャネル分離領域29近傍のシリコン界面準位(Qss)が増大し、N型シリコン基板内の少数キャリアである正孔が上記領域において消滅する。 - 特許庁

A local interconnect 235 extends through the upper isolation layer 204 and connects the field shield to a selected doped semiconductor region of the device (e.g., a source/drain region 211, 212 of a FET or a cathode or anode of a diode).例文帳に追加

ローカル相互接続が、上側絶縁分離層を通って延在しており、デバイスの選択されたドープした半導体領域(例えば、FETのソース/ドレイン領域またはダイオードのカソードもしくはアノード)にフィールド・シールドを接続する。 - 特許庁

The semiconductor device having transistors (P1, P10 and P11) formed in an active region (22) which is isolated by a trench isolation region has a prescribed circuit comprising first and second transistors (P10, P11) which require symmetry or relativity characteristics.例文帳に追加

トレンチアイソレーション領域で分離された活性領域(22)に形成されたトランジスタ(P1,P10,P11)を有する半導体装置において、対称的または相対的特性を必要とする第1及び第2のトランジスタ(P10,P11)を含む所定の回路を有する。 - 特許庁

After a capacitive element and a resistance element are formed from the same polycrystal silicon on an active region and on an element isolation region, respectively, a substrate surface is polished by CMP or etch back with being planarized until reaching an intended film thickness of a resistor.例文帳に追加

容量素子をアクティブ領域上、抵抗素子を素子分離領域上に同一の多結晶シリコンで形成した後、CMPやエッチバック等で、所望の抵抗体の膜厚になるまで、基板表面を平坦化させながら削る。 - 特許庁

The semiconductor device is further provided with an element isolation film 2 for isolating the element region where the MOS capacitor is formed, and the insulating film 3 and the upper electrode 40 are formed on the entire surface of the semiconductor substrate 1 positioned in the element region.例文帳に追加

MOSキャパシタが形成されている素子領域を分離する素子分離膜2を更に具備し、絶縁膜3及び上部電極40は、素子領域内に位置する半導体基板1の全面に形成されている。 - 特許庁

In such a region as the wiring layer 18 connected with a drain electrode 16 intersects the upper surface of the isolation region 4, a conduction plate 24 of ground potential and a conduction plate 25 under floating state are formed under the wiring layer 18.例文帳に追加

ドレイン電極16と接続する配線層18が分離領域4上面を交差する領域では、配線層18の下方に接地電位の導電プレート24とフローティング状態の導電プレート25とが形成されている。 - 特許庁

A nitrogen diffusion region 14 with nitrogen ions introduced thereinto is formed apart from the element isolation region 13 at an interval at the upper part of at least the drain diffusion layer 18 in the drain diffusion layer 18 and source diffusion layer 18.例文帳に追加

ドレイン拡散層18及びソース拡散層18のうちの少なくともドレイン拡散層18の上部には、窒素イオンが導入された窒素拡散領域14が素子分離領域13と間隔をおいて形成されている。 - 特許庁

In a process of previously protecting the device formation region with a thin protective film 10 upon forming a shallow trench portion 20 serving as a device isolation region in the semiconductor substrate 1, the protective film 10 comprises a harder material than a nitrided film (Si_3N_4).例文帳に追加

半導体基板1に素子分離領域となる浅溝部20を形成する際に、素子形成領域をあらかじめ薄膜の保護膜10で保護する工程において、保護膜10は窒化膜(Si_3N_4)よりも硬い材料からなる。 - 特許庁

The semiconductor device comprises an Si substrate 1 having a trench isolation structure which is formed on an isolation region where a main surface is divided into a plurality of element regions A1 to A3, wherein an epitaxial layer is selectively grown on the element regions A2, A3.例文帳に追加

本発明の半導体装置は、主面を複数の素子領域A1〜A3に区分する分離領域に形成されたトレンチ分離構造を有するSi基板1を備え、素子領域A2、A3にはエピタキシャル層が選択的に成長させられている。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device, which can secure a gate work margin and can suppress the fluctuations of transistor characteristic by reducing the drop of a trench end part in the semiconductor device, where an element isolation region by means of STI(shallow trench isolation) is formed.例文帳に追加

STIによる素子分離領域が形成された半導体装置において、トレンチ端部の落ち込みを低減することにより、ゲート加工マージンを確保でき、また、トランジスタ特性の変動を抑制できる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

In the silicon substrate 1 having a trench device-isolation region, a trench 3 which spreads from the surface to inside the silicon substrate 1 is formed, and a trench device-isolation insulator 5 is filled inside the trench 3 through a liner oxide 4 formed on an inner wall of the trench 4.例文帳に追加

トレンチ素子分離領域を有するシリコン基板1において、表面からシリコン基板1内部に延在するトレンチ3が形成され、トレンチ3の内壁に形成したライナー酸化膜4を介してトレンチ素子分離絶縁物5がトレンチ3内に充填される。 - 特許庁

After side walls 6 are formed on both sides of the groove 4 formed in the element isolation region R1 and, at the same time, a thermally oxidized film 7 is formed on the bottom of the groove 4, an inversion preventing electrode 9 embedded in the groove 4 is formed and an inversion preventing layer is formed in the element isolation region R1 by applying a negative voltage upon the electrode 9.例文帳に追加

素子分離領域R1に形成された溝4の側壁にサイドウォール6を形成するとともに、溝4の底に熱酸化膜7を形成した後、溝4に埋め込まれた反転防止用電極9を形成し、反転防止用電極9に負の電圧を印加することにより、素子分離領域R1に反転防止層を形成する。 - 特許庁

The contact hole which is formed in an interlayer insulating film 36 covering a MOS type transistor and a trench isolation structure 41 extends to a part of the source/drain region 34 and a part of the trench isolation structure 41 of the MOS type transistor, and an electrode plug 49 for contact which is in contact with the source/drain region 34 is formed in an aperture part of the contact hole.例文帳に追加

MOS型トランジスタおよびトレンチ分離構造41を覆う層間絶縁膜36中に形成されたコンタクトホールが、MOS型トランジスタのソース・ドレイン領域34の一部およびトレンチ分離構造41の一部に達し、その開口部内にソース・ドレイン領域34に接触するコンタクト用電極プラグ49が形成されている。 - 特許庁

The p-type MOS transistor has an active region STP surrounded by an element isolation region 3, where a width Xb in the longitudinal direction of a gate in a contact not-forming region Wb is narrower than a width Xa in the longitudinal direction of the gate on a contact forming region Wa with a contact plug 10a formed in the breadthwise direction of the gate.例文帳に追加

P型MOSトランジスタは、素子分離領域3に囲まれた活性領域STPが、ゲート幅方向において、コンタクトプラグ10aが形成されるコンタクト形成領域Waにおけるゲート長方向の幅Xaに比べて、非コンタクト形成領域Wbにおけるゲート長方向の幅Xbが狭くなっている。 - 特許庁

A first insulated separation film 5a which partitions an active region and a second insulation isolating film 5b which is thinner than the first insulation isolating film 5a and separates the active region into a first active region 6 and a second active region 7 as element isolation layers made of LOCOS are formed on the major surface S of a p-type silicon substrate 1.例文帳に追加

P型シリコン基板1の主表面SにLOCOSからなる素子分離層として、活性領域を区画する第1の絶縁分離膜5aと、この第1の絶縁分離膜5aよりも厚さが薄く、且つ、活性領域を第1の活性領域6と第2の活性領域7とに分離する第2の絶縁分離膜5bを形成する。 - 特許庁

The semiconductor memory is provided with a semiconductor substrate, an element region arranged on an upper part of the semiconductor substrate, an element isolation region arranged between the adjacent element regions, one or more electrically rewritable memory cell transistors arranged in the element region, and two selective transistors holding the memory cell transistor there between arranged in the element region.例文帳に追加

半導体記憶装置は、半導体基板と、半導体基板の上部に配置された素子領域と、隣接する素子領域の間に配置された素子分離領域と、素子領域に配置された、電気的に書き換え可能な1つ以上のメモリセルトランジスタと、素子領域に配置された、メモリセルトランジスタを挟み込む2つの選択トランジスタとを具備する。 - 特許庁

The semiconductor device having a trench isolation structure is constituted by forming at least one well region and an MOS type transistor at the high power supply voltage circuit part, and a carrier capturing region composed of a silicon region whose crystallinity is broken by argon ion implantation of high energy or the like and a region into which heavy metal such as gold is implanted is formed and disposed at an end of a well region so as to prevent a latch-up.例文帳に追加

トレンチ分離構造を有する半導体装置において、高電源電圧回路部には少なくとも一つのウエル領域とMOS型トランジスタが形成されて成り、ウエル領域の端部にラッチアップを防止するために高エネルギーのアルゴンイオン注入などにより結晶性を破壊されたシリコン領域や、金などの重金属を注入した領域からなるキャリア捕獲領域を形成し、配置する。 - 特許庁

To enable to reduce a stress effect undergoing from an element isolation film by an element formation region by a dummy pattern provided to flatten the front surface of a substrate in which the element isolation film is formed, and to enable to improve the operating characteristic of the element by controlling positively the stress effect.例文帳に追加

素子分離膜が形成された基板表面の平坦化を図るために設けるダミーパターンによって、素子形成領域が素子分離膜から受ける応力効果を低減できるようにし、また、応力効果を積極的に制御して素子の動作特性を向上できるようにする。 - 特許庁

In the semiconductor device provided with element isolation insulation films which have different depths depending on the locations where they are formed, the decline in the impurity concentration in the semiconductor substrate below the element isolation insulation films can be suppressed by forming a plurality of channel cut layers in the depth direction in one active region.例文帳に追加

形成された場所によって異なる深さを有する素子分離絶縁膜を備えた半導体装置において、一つの活性領域に、深さ方向に複数のチャネルカット層を形成することによって、素子分離絶縁膜下の半導体基板中の濃度の低下を抑制する。 - 特許庁

Then a channel stop is injected with energy such that it passes through a partial isolation oxide film PT11 to form a peak of an impurity profile within an SOI layer 3, and a channel stop layer N1 is formed within the SOI layer 3 under the partial isolation oxide film PT11, i.e., in a separated region.例文帳に追加

そして、部分分離酸化膜PT11を通過してSOI層3内で不純物プロファイルのピークが形成されるエネルギーでチャネルストップ注入を行い、部分分離酸化膜PT11の下部のSOI層3内、すなわち分離領域にチャネルストップ層N1を形成する。 - 特許庁

In an SOI layer 99 of an SOI substrate 100 having a buried oxide film 102, a first insulating isolation trench 109 is formed deep enough to reach the buried oxide film 102, and the IGBT is formed in an element region 103 insulated and isolated while enclosed with the first insulating isolation trench 109.例文帳に追加

埋め込み酸化膜102を有するSOI基板100のSOI層99に、埋め込み酸化膜102に達する深さまで第1絶縁分離トレンチ109を形成し、第1絶縁分離トレンチ109に取り囲まれて絶縁分離された素子領域103にIGBTを形成する。 - 特許庁

A rear surface electrode 4 is formed (e) for each photoelectric conversion element with two isolation grooves 21a, 21b by irradiating an isolation region with a laser beam LB from the side of a glass substrate 1 and then removing a semiconductor film 13 and a rear surface electrode film (ZnO film 14a/Al film 14b).例文帳に追加

ガラス基板1側からレーザビームLBを分離領域に照射し、半導体膜13及び裏面電極膜(ZnO膜14a/Al膜14b)を除去して2本の分離溝21a,21bにより各光電変換素子毎の背面電極4を形成する(e)。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device manufacturing system which can make with LOCOS the element isolation films, that is, the size of an active region to be fixed for each semiconductor substrate to be manufactured in formation of an element isolation film on a semiconductor substrate, whereon a flash memory is formed.例文帳に追加

フラッシュメモリが形成される半導体基板上に素子分離膜をロコスで形成する場合において、素子分離膜間の距離、すなわち活性領域の寸法を製造される半導体基板ごとに一定にさせることが可能な半導体装置製造システムを得ること。 - 特許庁

The bit line backing region S1 comprises bit line contact regions 9a including a part of the bit line diffusion layers 2 and having contacts 6, and a bit line contact isolation region 9b of the same conductive type as the substrate 1 interposed between the bit line contact regions 9a.例文帳に追加

ビット線裏打ち領域S1は、ビット線拡散層2の一部を含みコンタクト6を設けるビット線コンタクト領域9aと、ビット線コンタクト領域9aに挟まれ基板1と同一導電型のビット線コンタクト分離領域9bとを備える。 - 特許庁

An insulating side wall spacer 50 is formed on an side surface of the step formed between an upper surface of an element region and an upper surface of the trench isolation structure 41, and blocks a current leakage path between the source/drain region 34 and the electrode plug 49.例文帳に追加

素子領域の上面とトレンチ分離構造41の上面との間に形成された段差の側面に絶縁性サイドウォールスペーサ50が形成され、ソース/ドレイン領域34と電極プラグ49との間の電流リークパスを遮断している。 - 特許庁

By arranging in the longitudinal direction an isolation wall 3 separating a coolant flow path at the boundary between the core fuel region and the blanket region, a proper coolant flow distribution according to the heat rate in the two regions can be attained.例文帳に追加

炉心燃料領域とブランケット燃料領域との間の境界に冷却材流路を分割する隔壁3を長手方向に配設することにより、2つの領域の発熱量に応じた適切な冷却材流量配分とすることができる。 - 特許庁

A gate electrode 104a is formed on an active region of a semiconductor substrate 101, and a gate interconnect line 104b, consisting of the same material as the gate electrode 104a, is formed on an element isolation insulating film 102 surrounding the active region simultaneously.例文帳に追加

半導体基板101の活性領域上にゲート電極104aを形成すると共に、該活性領域を囲む素子分離絶縁膜102上に、ゲート電極104aと同一材料からなるゲート配線104bを形成する。 - 特許庁

For forming a plurality of semiconductor elements over an insulating surface, in one continuous semiconductor layer, an element region serving as a semiconductor element and an element isolation region having high resistance and a function to electrically isolate element regions from each other are formed.例文帳に追加

絶縁表面上に複数の半導体素子を形成するために、連続した半導体層中に半導体素子として機能する素子領域と、抵抗が高く素子領域間を電気的に分離する機能を有する素子分離領域を形成する。 - 特許庁

A separation groove 7 whose sidwall makes an acute angle of θ a with the surface of an n-type matrix 1 is formed on a isolation area of the surface of the n-type matrix 1 by etching, and a p-type diffusion region (emitting part) 5, etc., is formed on an LED array formation region.例文帳に追加

n型基材1表面の分離領域に、エッチングにより、側壁がn型基材1表面に対し鋭角θaをなす分離溝7を形成し、またLEDアレイ形成領域に、p型拡散領域(発光部)5等を形成する。 - 特許庁

Reducing a coupling amount between the filters due to the parasitic capacitance formed between the input pad part 5 of the transmission side filter region 12 and the output pad part 8 of the reception filter region 13 can considerably improve the isolation characteristics.例文帳に追加

送信側フィルタ領域12の入力パッド部5および受信側フィルタ領域13の出力パッド部8間に形成されていた寄生容量による各フィルタ間の結合量を小さくすることにより、アイソレーション特性を大幅に改善することができる。 - 特許庁

The semiconductor device includes a semiconductor substrate 1 including a plurality of device regions and a device isolation region 13 defining the device regions, and a MOS transistor formed on a semiconductor substrate major surface and having a source/drain region 11 and a gate 12.例文帳に追加

複数の素子領域及びこれらを区画する素子分離領域13を有するシリコンなどの半導体基板1と、半導体基板主面に形成されたソース/ドレイン領域11及びゲート12を有するMOSトランジスタとを具備している。 - 特許庁

In the isolation wall 14, a p-type semiconductor wall 141 and an insulator wall 142 are arranged in this order in a direction from a first light receiving region of the first light receiving element 12 to a second light receiving region of the second light receiving element 13.例文帳に追加

この分離壁14は、第1の受光素子部12の第1の受光領域から第2の受光素子部13の第2の受光領域に至る方向にP型半導体壁141と絶縁体壁142とをこの順に配設している。 - 特許庁

In a P-channel MOS transistor 50 having an SOI structure, an element formation region 20 the surrounding of which is isolated by an element isolation region is provided with a gate electrode 7, a P^+ drain layer 8, a P^+ source layer 9, a P^+ source layer 11, and an N^+ layer 10.例文帳に追加

SOI構造Pch MOSトランジスタ50は、周囲を素子分離領域で分離された素子形成領域20に、ゲート電極7、P^+ドレイン層8、P^+ソース層9、P^+ソース層11、及びN^+層10が設けられる。 - 特許庁

At least one of the terminal electrodes forms a branched terminal electrode provided with an electrode region spatially branched via an isolation region extending along an elongating direction of each terminal electrode.例文帳に追加

第1の基板上の端子電極群の少なくとも一つの端子電極はその端子電極群の配列方向と交差する方向に沿った分離領域を介して空間的に分岐された電極領域を備えた分岐型端子電極を形成している。 - 特許庁

例文

To avoid the oscillation of a structure due to a wind load etc., and effectively realize a base isolation function at the time of the occurrence of an earthquake, moreover optionally set the behavior of an elastic region, a yield load, and a plastic region, etc., by simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成で、構造物が風荷重等により揺動するのを回避すると共に、地震発生時には効果的に免震機能を果たすことができ、而も弾性域、降伏荷重、塑性域等の挙動を任意に設定できるようにする。 - 特許庁




  
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